會(huì)員.png)
7
當(dāng)前位置：廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司>>X熒光光譜XRF能量色散型>>X射線熒光光譜儀>> X-MET8000日立手持式X射線熒光光譜儀
日立手持式X射線熒光光譜儀性能：
X-MET提供的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實(shí)證校準(zhǔn)。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時(shí)間使用，而疲勞度非常低。
堅(jiān)固耐用而擁有成本低
符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
通過MIL-STD-810G耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。
高級(jí)數(shù)據(jù)管理
*靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報(bào)告輸出到U盤或個(gè)人計(jì)算機(jī)，或自動(dòng)將X-MET數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在LiveData云端。
日立手持式X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)：
應(yīng)用
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
廢金屬回收 | √ | √ | √ |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | √ | √ | |
制造與 PMI QA/QC | √ | √ | √ |
貴金屬 | √ | √ | √ |
監(jiān)管機(jī)構(gòu)合規(guī)篩查 （消費(fèi)品、包裝、原材料…） | √ | √ X-MET8000 Expert CG | |
環(huán)境土壤篩查 | √ X-MET8000 | √ X-MET8000 Expert Geo | |
礦石和礦物 | √ X-MET8000 | √ X-MET8000 Expert Geo | |
金屬鍍層厚度測量 | √ | √ | √ X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | √ | √ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
比較型號(hào)
X-MET8000 Smart
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
樣本溫度可達(dá)：400oC
符合 IP54 等級(jí)
Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞
校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 （可選）
X-MET8000 Optimum
X射線管：40kV or 50kV
濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器：大面積 SDD
樣本溫度可達(dá)：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)
符合 IP54 等級(jí)
可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）
內(nèi)置攝像頭（可選）
小光班準(zhǔn)直器（可選）
針對(duì)所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
X射線管：50kV
濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器：大面積 SDD
樣本溫度可達(dá)：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)
符合 IP54 等級(jí)
可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn)方法：自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）
內(nèi)置攝像頭
小光班準(zhǔn)直器 （可選)
針對(duì)所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片
